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為了追求更好的掃描速度，在鏡片的諧振頻率上以正弦波進行掃描振蕩，提升了數(shù)倍的振鏡掃描速度。CRS利用了元素周期表上原子量低的硬質(zhì)金屬鈹作為振鏡反射鏡基材，使得激光振鏡反射鏡的掃描諧振頻率可以高達12000Hz.

在鏡頭品質(zhì)評價、光學(xué)元件測試中，通過嚴(yán)格的數(shù)學(xué)計算，獲取豐富的、準(zhǔn)確的結(jié)果，并將其成工程界廣泛使用的參數(shù)、系數(shù)，提供與主流光學(xué)設(shè)計分析軟件的匹配與對比，以及符合各領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，是不可缺乏的一環(huán)。光學(xué)元件測試分析軟件KALEO-T軟件應(yīng)運而生，您只需要輕點鼠標(biāo)就能得到需要的結(jié)果，而將繁冗的分析留給KALEO-T。

照明及光路組件SID4 R-CUBE為一臺集成式照明模塊，可配合SID4系列波前位相傳感器構(gòu)成雙光路光學(xué)元件測試系統(tǒng)。SID4 R-CUBE提供高品質(zhì)的準(zhǔn)直光源照明（可選擇透鏡構(gòu)成匯聚/發(fā)散光源），并可直接連接至SID4系列傳感器。可用于大口徑平面及曲面鏡片，透鏡組件的測試及校準(zhǔn)。

Phasics Kaleo IR 紅外光學(xué)計量機臺讓紅外光學(xué)元件測試變得非常簡便?？赏ㄟ^單次測量迅速獲得紅外的MTF，而無需掃描或繁冗的準(zhǔn)直工作；在測量的同時可獲取所有的波前畸變。同時Kaleo IR還是一臺在NIR，SWIR，MWIR以及LWIR波段的高性價比紅外干涉儀，用于測試光學(xué)元件面形。

Kaleo MultiWave 光學(xué)元件面型測量儀是一臺多波長工作的光學(xué)元件面形測試系統(tǒng)，用于替代昂貴、低效、操作復(fù)雜的干涉儀，測量光學(xué)元件的表面面形、透過波差等參數(shù)。

Kaleo MTF for R&D 為更為靈活配置、開放式的MTF測試儀。相對于主要面向產(chǎn)線和QC的自動化傳函測試儀，這臺儀器更適合研發(fā)工程師使用。

自動化傳函測試儀KALEO MTF可以全自動測試透鏡的傳遞函數(shù)、像差等品質(zhì)，具備自動進樣、自動對焦、自動離軸測試等功能，是生產(chǎn)線小批量鏡頭QC/ 篩選的理想設(shè)備。