采用光纖錐耦合X射線探測器,zui大限度的提高了光通量,用1:1的光纖面板,耦合效率可達到70%,大大提高了相機的探測能力。圖像不失真,不需要對影像進行較正,可以讓系統(tǒng)的軟件變得更簡單
 
X射線探測器 的詳細介紹
 
高耦合效率,降低設備X光源的投入
影像不失真,讓系統(tǒng)軟件變得更簡單
 采用光纖錐耦合的,zui大限度的提高了光通量,用1:1的光纖面板,耦合效率可達到70%,大大提高了相機的探測能力。圖像不失真,不需要對影像進行較正,可以讓系統(tǒng)的軟件變得更簡單。
此相機廣泛的應用于工業(yè)無損檢測,如鑄件和焊接檢測、PCB板檢測、工業(yè)CT等。
    
   
     
BGA檢查                    IC焊腳檢查             二管質量檢查       金線檢查     
 
產(chǎn)品規(guī)格:                                                                      
標準產(chǎn)品有以下三個型號,根據(jù)X光源不同,要求分辨率以及目標物的厚度不同,有可能需要改變熒光屏材料和厚度。我們向您提供*的解決方案。    
                       
 
產(chǎn)品型號  | HR-25-X-Ray  | HR-40-X-Ray  | HR-75-X-Ray  | 
CCD芯片  | 2/3’’芯片,752*582  | 2/3’’芯片,1392*1040  | 1.2’’芯片,2048*2048  | 
像素尺寸  | 11.6um*11.2um  | 6.45um*6.45um  | 7.4um*7.4um  | 
輸出格式  | 標準CCIR模擬型號輸出  | 8bit或12bit數(shù)字信號輸出  | 8bit或12bit數(shù)字信號輸出  | 
幀速  | 視頻速度  | 17幀或30幀  | 15幀  | 
計算機接口  | 無  | 1394或以太網(wǎng)接口  | 以太網(wǎng)接口  | 
視場  | 20mm*15mm(其它可選)  | 32mm*24mm(其它可選)  | 45um*45um  | 
熒光屏鍍膜  | P43(其它可選)  | P43(其它可選)  | P43(其它可選)  | 
X光響應范圍  | 20kev-100kev  | 20kev-100kev  | 20kev-100kev  | 
入射光窗  | 0.5mm厚鋁膜(其它可選)  | 0.5mm厚鋁膜(其它可選)  | 0.5mm厚鋁膜(其它可選)  | 
分辨率  | 50um  | ≤50um,10lp/mm  | ≤50um,11 lp/mm  | 
 
 
 
HR-75-X-Ray
400萬像素高分辨率;選用75:25的光纖錐耦合,視野可達到45mm X 45mm.
 
 
HR-40-X-Ray
140萬像素高分辨率;選用40:11的光纖錐耦合,視野可達到32mm X 24mm.
 
 
HR-25-X-Ray
體積小巧,直徑僅55mm,長68mm,易于安裝;分辨率高;動態(tài)范圍好。

 
量子效率曲線圖
(P43熒光屏(25mg/cm2), 厚度:55um)
 
定制產(chǎn)品:                                                                      
我們可根據(jù)客戶的需求定制X-Ray相機
 
- 熒光屏類型和厚度
 - 附加層(如Alu,ITO)
 - 輸入窗口類型和厚度
 - 相機電子部分(如計算機接口)
 - 制冷(針對于部分型號)
 - 真空接口
 - 視野大小
 - 空間分辨率
 
            
應用領域                                                                        
醫(yī)學成像設備:
 
工業(yè)檢測設備:
- PCB或BGA 檢查
 - 半導體缺陷檢查
 - 食品安全檢查
 - X光光斑成像
 - 無損探傷
 - 電線檢查
 
 
安防設備:
- 紫外線預警
 - 距離選通激光雷達
 - 夜視相機
 - 爆炸物探測
 - 指紋獲取
 - 火災探測